鍍層測厚儀的原理及優(yōu)勢

更新時間：2023-02-27

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鍍層測厚儀采用磁性測厚方法，可無損傷檢測磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專業(yè)的儀器。

鍍層測厚儀原理是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等(在有關(guān)國家和國際標準中稱為覆層。

優(yōu)勢：

1.測量速度快，具有單次和連續(xù)測量方式可選擇。

2.精度高，自動記憶校準值和自動識別被測基體的材質(zhì)。

3.鍍層測厚儀穩(wěn)定性高，操作測量時會有蜂鳴器提示音和連續(xù)測量時蜂鳴器不發(fā)聲提示。

4.功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測量方法。